本部分規(guī)定了通用集成電路卡(UICC) 與非接觸通信模塊(CLF)間的主控接口（HCI）UICC特性的測(cè)試方法，包括HCI構(gòu)架、指令、HCI上的命令/事件、端口和HCI規(guī)程。
本部分適用于支持HCI技術(shù)的UICC卡。
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